【英文标准名称】:High-voltagetesttechniques-Partialdischargemeasurements
【原文标准名称】:高压试验技术.局部放电测量
【标准号】:IEC60270Corrigendum1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2001-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC42
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;校准器;定义;排放;排量测量;放电;电气工程;电学测量;电气试验;高电压;高电压技术;高压试验技术;耐高压试验;测量;测量不确定度;测量系统;测量技术;局部放电;性能试验;规范(验收);试验技术;试验;试验条件;试验电压
【英文主题词】:Calibration;Calibrator;Definitions;Discharge;Dischargemeasurement;Electricdischarges;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electricaltesting;Highvoltage;High-voltagetechniques;High-voltagetesttechnique;High-voltagetests;Measurement;Measuringincertainity;Measuringsystems;Measuringtechniques;Partialdischarges;Performancetests;Specification(approval);Testtechniques;Testing;Testingconditions;Testingvoltages
【摘要】:ThisstandardisHigh-voltagetesttechniques-Partialdischargemeasurements;Corrigendum1.
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:
【正文语种】:英语

标准名称：	半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
英文名称：	Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
ICS分类：	电子学 >> 半导体器件
替代情况：	替代GB/T 4937-1995
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期：	2006-08-23
实施日期：	2007-02-01
首发日期：	1985-02-06
作废日期：
主管部门：	信息产业部（电子）
提出单位：	中华人民共和国信息产业部
归口单位：	全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：	中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：	崔波、陈海蓉
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2007-02-01
页数：	6页
计划单号：	20030193-T-339

本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000V的器件。本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本标准条款。

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